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數字(zi)智(zhi)能(neng)型電(dian)路(lu)板(ban)廠家 電(dian)子、通訊、IT領(ling)域較(jiao)為(wei)關(guan)鍵的(de)(de)(de)產(chan)品(pin)組成部分(fen),承(cheng)擔(dan)著承(cheng)上啟下的(de)(de)(de)橋梁作用。它(ta)點綴(zhui)在現代生活的(de)(de)(de)每個亮(liang)點。智(zhi)能(neng)電(dian)路(lu)板(ban)以較(jiao)可靠的(de)(de)(de)微小空間高(gao)速聯(lian)通電(dian)路(lu)信息(xi)，智(zhi)能(neng)優化每一(yi)款電(dian)路(lu)產(chan)品(pin)方正(zheng)智(zhi)能(neng)電(dian)路(lu)板(ban)以前沿的(de)(de)(de)技術和較(jiao)精良的(de)(de)(de)設備，為(wei)的(de)(de)(de)電(dian)子廠商提供優質可靠，低碳環保的(de)(de)(de)產(chan)品(pin)，并為(wei)客戶提供一(yi)站(zhan)式的(de)(de)(de)產(chan)品(pin)服務。
更(geng)新時間(jian)：2023-12-21 廠(chang)商性質：生產(chan)廠(chang)家 訪(fang)問量：2019
一.帶程序的芯片
1.芯片一(yi)般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦(ca)除掉程序, 故在測試中不會損壞程
wifi顯微鏡(jing)進行(xing)電(dian)路板檢(jian)測(ce)
序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經做過 多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.
3.對(dui)于(yu)電(dian)路板(ban)上帶有電(dian)池的(de)芯片(pian)不要輕易將其從(cong)板(ban)上拆下來.
數字智能型電路板廠家
二.復位電路
1.待修電路板上有大規模集成電路時,應注意復位問題.
2.在測試前裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復位鍵.
三.功能與參數測試
1.<測試儀>對(dui)器件的(de)檢(jian)測,僅能(neng)反應出截止區,放大區和飽和區.但(dan)不(bu) 能(neng)測出工作頻率的(de)高低和速度的(de)快慢等具(ju)
便攜顯微鏡進行電路(lu)板檢測
體數值等.
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常(chang)見有(you)2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加(jia)電源的,注意不可隨 意短路.五.故障(zhang)現象的分布
便(bian)攜式顯微鏡檢(jian)測電路板
