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數字智能(neng)(neng)(neng)型電(dian)路板(ban)(ban)特征 電(dian)子、通訊、IT領域較為關鍵的(de)產品(pin)(pin)組(zu)成部分,承(cheng)擔著承(cheng)上啟下(xia)的(de)橋梁作(zuo)用(yong)。它點(dian)綴(zhui)在現代生活(huo)的(de)每個亮點(dian)。智能(neng)(neng)(neng)電(dian)路板(ban)(ban)以較可(ke)靠的(de)微小(xiao)空間高(gao)速聯通電(dian)路信息，智能(neng)(neng)(neng)優化每一(yi)款電(dian)路產品(pin)(pin)方正智能(neng)(neng)(neng)電(dian)路板(ban)(ban)以前沿(yan)的(de)技術(shu)和較精良的(de)設備，為的(de)電(dian)子廠商提供(gong)優質可(ke)靠，低(di)碳環保(bao)的(de)產品(pin)(pin)，并為客戶提供(gong)一(yi)站式的(de)產品(pin)(pin)服(fu)務。
更新時間：2024-05-14 廠商性質(zhi)：生產廠家 訪問量：1828
一.帶程序的芯片
1.芯片(pian)一(yi)般不宜(yi)損(sun)壞.因這種芯片(pian)需要(yao)紫外光才能擦除掉程序, 故在測試中不會損(sun)壞程
wifi顯微鏡進(jin)行電路板檢測
序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經做過 多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.
3.對于電(dian)路板(ban)上帶有電(dian)池(chi)的芯片不要輕易將其從板(ban)上拆(chai)下來.
數字智能型電路板特征
二.復位電路
1.待修電路板上有大規模集成電路時,應注意復位問題.
2.在測試前裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復位鍵.
三.功能與參數測試
1.<測試儀>對器件的(de)(de)檢(jian)測,僅能反(fan)應出(chu)(chu)截止區,放大區和飽(bao)和區.但不(bu) 能測出(chu)(chu)工作頻(pin)率的(de)(de)高低(di)和速(su)度的(de)(de)快慢(man)等具
便攜顯微鏡進行電路板檢測
體數值等.
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶(jing)振常(chang)見有2種:a.兩腳(jiao).b.四(si)腳(jiao),其中第2腳(jiao)是加電(dian)源的(de),注意(yi)不可隨 意(yi)短(duan)路.五.故障現(xian)象的(de)分布
便(bian)攜式顯微鏡檢測電路板
