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數字智能電路(lu)板：是(shi)電子、通訊、IT領域較為(wei)(wei)關鍵的(de)產品(pin)組成部分,承擔著承上(shang)啟下的(de)橋梁(liang)作用。它(ta)點綴在現(xian)代生活的(de)每(mei)個亮點。智能電路(lu)板以較可靠的(de)微小空間高速(su)聯通電路(lu)信(xin)息，智能優化每(mei)一(yi)款電路(lu)產品(pin)方(fang)正(zheng)智能電路(lu)板以前沿(yan)的(de)技術(shu)和較精(jing)良的(de)設備(bei)，為(wei)(wei)的(de)電子廠商提供優質可靠，低碳環保的(de)產品(pin)，并為(wei)(wei)客(ke)戶(hu)提供一(yi)站式的(de)產品(pin)服(fu)務。
更新(xin)時間：2023-04-23 廠商性(xing)質：生產廠家 訪問(wen)量：575
一.帶程序的芯片
1.芯片(pian)一般(ban)不宜損壞(huai).因這種芯片(pian)需要紫外(wai)光才能擦除(chu)掉程序, 故在測(ce)試中不會損壞(huai)程
wifi顯微鏡進行電路板檢(jian)測
序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經做過 多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.
3.對于電(dian)路板上帶有電(dian)池的芯(xin)片不要輕易將其從板上拆下來(lai).
數(shu)字(zi)智能電路(lu)板
二.復位電路
1.待修電路板上有大規模集成電路時,應注意復位問題.
2.在測試前裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復位鍵.
三.功能與參數測試
1.<測(ce)(ce)試儀>對器件(jian)的檢(jian)測(ce)(ce),僅能反應出截止區,放大區和飽和區.但不 能測(ce)(ce)出工作頻(pin)率的高低和速度的快慢等具
便攜顯微(wei)鏡進(jin)行電路板檢測
體數值等.
2.同理對TTL數字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無 法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量, 否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電 容漏電.這里漏電現象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關 芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振(zhen)常見有2種:a.兩腳.b.四(si)腳,其中第2腳是加電源的,注(zhu)意不可隨 意短路(lu).五.故障(zhang)現象的分布
便攜(xie)式顯微鏡檢測電路板
1.電路板故障部位的不*統計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當待修(xiu)電路板(ban)出現聯線(xian)和(he)程序有(you)問題(ti)時,又沒有(you)好板(ban)子(zi),既 不(bu)熟悉(xi)它的連(lian)線(xian),找不(bu)到(dao)原程序.此板(ban)修(xiu)好的可能(neng)性就不(bu)大了
